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半导体芯片老化和逻辑测试系统
    发布时间: 2023-03-10 11:13    

生产厂家:Aehr Test Systems

从工艺到生产的解决方案:

FOX-CP Single Wafer Stepping  Test & Burn-In System

FOX-NP Dual WaferPak & Dual DiePak  Test & Burn-In System

FOX-XP Multi WaferPak & Multi DiePak  Test & Burn-In System

FOX-P WaferPak Contactors

FOX-P DiePak Carrier



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