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RIGAKU日本理学新一代形貌检测系统 XRTmicron
    发布时间: 2023-10-11 09:42    

●X射线源:微焦点高亮度旋转阳极
入射光学器件:多层平行光束准直器
可使用晶体准直器
●自动更换样品(以水平配置为例)
兼容投射&反射几何的测角仪系统
●使用高灵敏度和高分辨率X 射线照相机捕获数字图像
●位错形貌图像分析
●不仅用于研发,也用于批量质量管控

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